专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]数据的概率密度分布的确定方法、装置、设备和介质-CN202011479528.3在审
  • 李辰威 - 北京百奥智汇科技有限公司
  • 2020-12-15 - 2021-03-09 - G06F17/12
  • 其中,该方法包括:根据样本属性数据,确定目标正交多项式正交多项式系数的取值;根据目标正交多项式正交多项式系数与普通多项中普通多项系数之间的变换关系构建系数变换矩阵;根据系数变换矩阵和正交多项式系数的取值,确定普通多项系数的取值,将普通多项系数的取值发送给前端设备,由前端设备根据普通多项系数的取值绘制概率密度分布图。本发明实施例能够通过后端设备直接将有限的普通多项系数传输给前端设备,由前端设备构建概率密度函数以实现概率密度分布的有效绘制,从而避免了数量传输量过大导致设备运行超负荷问题。
  • 数据概率密度分布确定方法装置设备介质
  • [发明专利]曝光方法、测量方法以及曝光装置-CN201710774884.X有效
  • 周畅;杨志勇;朱岳彬;徐兵 - 上海微电子装备(集团)股份有限公司
  • 2017-08-31 - 2020-05-01 - G03F7/20
  • 本发明提供了一种曝光方法、测量方法以及曝光装置,所述曝光方法包括:得到工件台、掩模台和投影物镜的垂向正交多项式运动轨迹;得到工件台、掩模台和投影物镜的水平向正交多项式运动轨迹;将垂向正交多项式运动轨迹与水平向正交多项式运动轨迹的轨迹系数发给执行机构所述曝光方法获取掩模板以及基板的面形信息的畸变信息,根据坐标系关系拆解得到所述工件台、所述掩模台、空间像的位置轨迹系数,通过投影物镜的补偿、总的工件台的面形补偿量、总的工件台的栅格变形补偿量,确定垂向正交多项式运动轨迹与水平向正交多项式运动轨迹
  • 曝光方法测量方法以及装置
  • [发明专利]任意孔径形状高阶自由曲面波前的重构方法-CN202010320641.0在审
  • 吴珍;魏朝阳;胡晨;万嵩林 - 中国科学院上海光学精密机械研究所
  • 2020-04-22 - 2020-08-04 - G01J9/00
  • 该方法将基于数值化正交多项式的模式法和基于多项的有限差分法相结合,可实现任意孔径形状的复杂自由曲面波前重构。首先针对不同孔径形状,构造数值化正交多项式用以拟合波前斜率信息,得到多项系数和第一次波前。接着由多项系数和数值化梯度多项线性组合得到第一次重构波前的斜率,计算斜率残差。然后将无法用多项拟合的斜率残差用基于多项的区域法拟合,得到第二次波前,最后得到的重构波前是两次波前的加和。与现有的波前重构方法比,该方法主要优点是:适用于任意孔径的复杂自由曲面波前的快速重构,即可以得到波前模式信息,又能提高有限项数值化正交多项式的波前重构精度。
  • 任意孔径形状自由曲面方法

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